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應用碎形特徵於口罩胚布之瑕疵檢測系統研究

~

楊政學

應用碎形特徵於口罩胚布之瑕疵檢測系統研究

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
作者:	楊政學
出版地:	彰化縣大村鄉
出版者:	大葉大學機電自動化研究所;
出版年:	2008
版本:	初版
面頁冊數:	72頁 : 30x22公分;
標題:	電機工程 -
附註:	陳昭雄指導

應用碎形特徵於口罩胚布之瑕疵檢測系統研究
楊政學

應用碎形特徵於口罩胚布之瑕疵檢測系統研究 / 楊政學撰 - 初版. - 彰化縣大村鄉 : 大葉大學機電自動化研究所, 2008. - 72頁 ; 30x22公分.
陳昭雄指導.
電機工程

應用碎形特徵於口罩胚布之瑕疵檢測系統研究
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館藏

2 筆 • 頁數 1 •
1

典藏地名稱

館藏流通類別

820448000001081

地下室密集書庫區

3.不外借

碩士學位論文(校內)(master's thesis)

DT MA-97 4617

1.一般(Normal)

在架

0

820448000001082

二樓博碩士學位論文區

1.圖書流通

碩士學位論文(校內)(master's thesis)

DT MA-97 4617 C2

1.一般(Normal)

在架

0

2 筆 • 頁數 1 •
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