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國內記憶體ic測試業的現況及測試流程之改善

~

曾春賢

國內記憶體ic測試業的現況及測試流程之改善

紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
作者:	曾春賢
出版地:	台北市
出版者:	國科會科學技術資料中心;
面頁冊數:	92頁 :
標題:	工業工程 -
附註:	MOE87-1110-8603520;張丁才指導教授

國內記憶體ic測試業的現況及測試流程之改善
曾春賢

國內記憶體ic測試業的現況及測試流程之改善 / 曾春賢撰 - 台北市 : 國科會科學技術資料中心 - 92頁.
MOE87-1110-8603520;張丁才指導教授.
工業工程

國內記憶體ic測試業的現況及測試流程之改善
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801 1 $a TW $b 大葉大學 $c 20010205

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館藏

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典藏地名稱

館藏流通類別

833440000000936

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料(microform)

MF 440 8057

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