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內嵌式記憶體的內建自我測試

~

魏震榮

內嵌式記憶體的內建自我測試

紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
作者:	魏震榮
出版地:	台北市
出版者:	國科會科學技術資料中心;
面頁冊數:	75頁 :
標題:	資訊科學 -
附註:	MOE87-0096-78656009;王行健指導教授

內嵌式記憶體的內建自我測試
魏震榮

內嵌式記憶體的內建自我測試 / 魏震榮撰 - 台北市 : 國科會科學技術資料中心 - 75頁.
MOE87-0096-78656009;王行健指導教授.
資訊科學

內嵌式記憶體的內建自我測試
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館藏

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典藏地名稱

館藏流通類別

833312900000657

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料(microform)

MF 312.9 2219

1.一般(Normal)

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