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快閃式記憶元件中熱載子注入導致的可靠性問題研究
~
易成名
快閃式記憶元件中熱載子注入導致的可靠性問題研究
紀錄類型:
微縮資料 : 單行本
作者:
易成名
出版地:
台北市
出版者:
國科會科學技術資料中心;
面頁冊數:
183頁 :
標題:
電子工程 -
附註:
MOE87-0007-8111552-D;芳紹勳 指導教授
快閃式記憶元件中熱載子注入導致的可靠性問題研究
易成名
快閃式記憶元件中熱載子注入導致的可靠性問題研究
/ 易成名 撰 - 台北市 : 國科會科學技術資料中心 - 183頁.
MOE87-0007-8111552-D;芳紹勳 指導教授.
電子工程
快閃式記憶元件中熱載子注入導致的可靠性問題研究
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20010201
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三樓視聽資料區
館藏
2 筆 • 頁數 1 •
1
條碼號
典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
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借閱狀態
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833448600000726
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3.不外借
微縮資料(microform)
MF 448.6 6052 V1
1.一般(Normal)
限閱(視聽區)
0
833448600000727
三樓視聽資料區
3.不外借
微縮資料(microform)
MF 448.6 6052 V2
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