大葉大學圖書館 |

語系: 繁體中文

說明(常見問題)

登入

回首頁

切換: 標籤 | MARC模式 | ISBD

光調制反射光譜技術量測分析低溫砷化鎵深層能階之研究

~

許忠龍

光調制反射光譜技術量測分析低溫砷化鎵深層能階之研究

紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
作者:	許忠龍
出版地:	台北市
出版者:	國科會科學技術資料中心;
面頁冊數:	61頁 :
標題:	電子工程 -
附註:	MOE89-0007-8621520；楊賜麟指導教授

光調制反射光譜技術量測分析低溫砷化鎵深層能階之研究
許忠龍

光調制反射光譜技術量測分析低溫砷化鎵深層能階之研究 / 許忠龍撰 - 台北市 : 國科會科學技術資料中心 - 61頁.
MOE89-0007-8621520；楊賜麟指導教授.
電子工程

光調制反射光譜技術量測分析低溫砷化鎵深層能階之研究
LDR:00387nhm 2200133 450 001 129927
009 9002629
100 $a 20100607 0chiy0900 e
101 $a chi
102 $a tw
200 1 $a 光調制反射光譜技術量測分析低溫砷化鎵深層能階之研究 $f 許忠龍撰
210 $a 台北市 $c 國科會科學技術資料中心
215 $a 61頁
300 $a MOE89-0007-8621520；楊賜麟指導教授
606 $a 電子工程 $3 505
700 $a 許忠龍 $4 撰 $3 119255
801 1 $a TW $b 大葉大學 $c 20010131

筆 0 讀者評論

館藏

1 筆 • 頁數 1 •
1

典藏地名稱

館藏流通類別

833448600000696

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料(microform)

MF 448.6 0850

1.一般(Normal)

限閱(視聽區)

0

1 筆 • 頁數 1 •
1

評論

新增評論分享你的心得

Export

取書館別

變更密碼

登入