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n與p通道快閃記憶體性能與可靠性之比較研究

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廖勝泰

n與p通道快閃記憶體性能與可靠性之比較研究

紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
作者:	廖勝泰
出版地:	台北市
出版者:	國科會科學技術資料中心;
面頁冊數:	65頁 :
標題:	電子工程 -
附註:	MOE87-0007-8611509

n與p通道快閃記憶體性能與可靠性之比較研究
廖勝泰

n與p通道快閃記憶體性能與可靠性之比較研究 / 廖勝泰撰 - 台北市 : 國科會科學技術資料中心 - 65頁.
MOE87-0007-8611509.
電子工程

n與p通道快閃記憶體性能與可靠性之比較研究
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館藏

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典藏地名稱

館藏流通類別

833448600000516

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料(microform)

MF 448.6 0075

1.一般(Normal)

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