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薄氧化層n型與p型金氧半元件中熱載子效應汲極電流的退化

~

黃立元

薄氧化層n型與p型金氧半元件中熱載子效應汲極電流的退化

紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
作者:	黃立元
出版地:	台北市
出版者:	國科會科學技術資料中心;
面頁冊數:	71頁 :
標題:	電子工程 -
附註:	MOE87-0007-8611504；汪大暉指導教授

薄氧化層n型與p型金氧半元件中熱載子效應汲極電流的退化
黃立元

薄氧化層n型與p型金氧半元件中熱載子效應汲極電流的退化 / 黃立元撰 - 台北市 : 國科會科學技術資料中心 - 71頁.
MOE87-0007-8611504；汪大暉指導教授.
電子工程

薄氧化層n型與p型金氧半元件中熱載子效應汲極電流的退化
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801 1 $a TW $b 大葉大學 $c 20010118

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典藏地名稱

館藏流通類別

833448600000508

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微縮資料(microform)

MF 448.6 4401-A

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