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個別半導體デバ抦スの試驗方法:mil-std-750c

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日本規格協會

個別半導體デバ抦スの試驗方法:mil-std-750c

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
團體作者:	日本規格協會
出版地:	東京都
出版者:	日本規格協會;
出版年:	1986
版本:	第一版
面頁冊數:	423頁 : 21x15公分;
ISBN:	4542401189 平裝

個別半導體デバ抦スの試驗方法:mil-std-750c
日本規格協會

個別半導體デバ抦スの試驗方法:mil-std-750c / 日本規格協會編集 - 第一版. - 東京都 : 日本規格協會, 1986. - 423頁 ; 21x15公分.
ISBN 4542401189

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館藏

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典藏地名稱

館藏流通類別

801448650000011

四樓特藏區

1.圖書流通

圖書(book)

448.65 6554

1.一般(Normal)

裝箱

0

箱號no.381,借閱請洽參考台

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