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利用rietveld method測定(la1-xndx)0.7sr0....

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陳炳元

利用rietveld method測定(la1-xndx)0.7sr0.3mno3系統的結構並探討結構與磁性的關係

紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
作者:	陳炳元
出版地:	台北市
出版者:	國科會科學技術資料中心;
面頁冊數:	72頁 : 11x15公分;
標題:	物理 -
附註:	MOE87-0002-863316; 李宗仁指導教授

利用rietveld method測定(la1-xndx)0.7sr0.3mno3系統的結構並探討結構與磁性的關係
陳炳元

利用rietveld method測定(la1-xndx)0.7sr0.3mno3系統的結構並探討結構與磁性的關係 / 陳炳元撰 - 台北市 : 國科會科學技術資料中心 - 72頁 ; 11x15公分.
MOE87-0002-863316; 李宗仁指導教授.
物理

利用rietveld method測定(la1-xndx)0.7sr0.3mno3系統的結構並探討結構與磁性的關係
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館藏

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典藏地名稱

館藏流通類別

833330000000162

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料(microform)

MF 330 7591

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