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易測試lz資料壓縮器與偵錯硬體模擬器之細胞陣列設計
~
吳誠文
易測試lz資料壓縮器與偵錯硬體模擬器之細胞陣列設計
紀錄類型:
微縮資料 : 單行本
作者:
黃世安
其他作者:
吳誠文
出版地:
台北市
出版者:
國科會科學技術資料中心;
面頁冊數:
106頁 : 11x15公分;
標題:
電機工程 -
附註:
MOE86-0002-833912-D
易測試lz資料壓縮器與偵錯硬體模擬器之細胞陣列設計
黃世安
易測試lz資料壓縮器與偵錯硬體模擬器之細胞陣列設計
/ 黃世安 撰 ; 吳誠文 指導 - 台北市 : 國科會科學技術資料中心 - 106頁 ; 11x15公分.
MOE86-0002-833912-D.
電機工程
吳誠文
易測試lz資料壓縮器與偵錯硬體模擬器之細胞陣列設計
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20000623
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三樓視聽資料區
館藏
2 筆 • 頁數 1 •
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條碼號
典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約狀態
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附件
833448000001123
三樓視聽資料區
3.不外借
微縮資料(microform)
MF 448 4443-D V1
1.一般(Normal)
限閱(視聽區)
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833448000001124
三樓視聽資料區
3.不外借
微縮資料(microform)
MF 448 4443-D V2
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