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應用於電氏衰褪通道之zp-迴旋編碼連續相位頻移鍵調變的最佳性測試

~

呂忠津

應用於電氏衰褪通道之zp-迴旋編碼連續相位頻移鍵調變的最佳性測試

紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
作者:	蕭昌龍
其他作者:	呂忠津
出版地:	台北市
出版者:	國科會科學技術資料中心;
面頁冊數:	62頁 : 11x15公分;
標題:	電機工程 -
附註:	MOE86-0002-843923

應用於電氏衰褪通道之zp-迴旋編碼連續相位頻移鍵調變的最佳性測試
蕭昌龍

應用於電氏衰褪通道之zp-迴旋編碼連續相位頻移鍵調變的最佳性測試 / 蕭昌龍撰 ; 呂忠津指導 - 台北市 : 國科會科學技術資料中心 - 62頁 ; 11x15公分.
MOE86-0002-843923.
電機工程

呂忠津

應用於電氏衰褪通道之zp-迴旋編碼連續相位頻移鍵調變的最佳性測試
LDR:00407nhm 2200133 450 001 112083
009 8916545
100 $a 20100607 0chiy0900 e
101 $a chi
102 $a tw
200 1 $a 應用於電氏衰褪通道之zp-迴旋編碼連續相位頻移鍵調變的最佳性測試 $f 蕭昌龍撰 $g 呂忠津指導
210 $a 台北市 $c 國科會科學技術資料中心
215 $a 62頁 $d 11x15公分
300 $a MOE86-0002-843923
606 $a 電機工程 $3 9918
700 $a 蕭昌龍 $4 撰 $3 101924
702 $a 呂忠津 $4 指導 $3 61055
801 1 $a TW $b 大葉大學 $c 20000623

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館藏

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典藏地名稱

館藏流通類別

833448000001117

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料(microform)

MF 448 4460-C

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