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適用於熱加速之可程式記憶體測試模組

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廖國裕

適用於熱加速之可程式記憶體測試模組

紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
作者:	廖國裕
其他作者:	蘇朝琴
出版地:	台北市
出版者:	國科會科學技術資料中心;
面頁冊數:	72頁 : 11x15公分;
標題:	電機工程 -
附註:	MOE86-0008-85324022

適用於熱加速之可程式記憶體測試模組
廖國裕

適用於熱加速之可程式記憶體測試模組 / 廖國裕撰 ; 蘇朝琴指導 - 台北市 : 國科會科學技術資料中心 - 72頁 ; 11x15公分.
MOE86-0008-85324022.
電機工程

蘇朝琴

適用於熱加速之可程式記憶體測試模組
LDR:00370nhm 2200133 450 001 106946
009 8910525
100 $a 20100607 0chiy0900 e
101 $a chi
102 $a tw
200 1 $a 適用於熱加速之可程式記憶體測試模組 $f 廖國裕撰 $g 蘇朝琴指導
210 $a 台北市 $c 國科會科學技術資料中心
215 $a 72頁 $d 11x15公分
300 $a MOE86-0008-85324022
606 $a 電機工程 $3 9918
700 $a 廖國裕 $4 撰 $3 96251
702 $a 蘇朝琴 $4 指導 $3 60526
801 1 $a TW $b 大葉大學 $c 20000529

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館藏

1 筆 • 頁數 1 •
1

典藏地名稱

館藏流通類別

833448000000496

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料(microform)

MF 448 0063

1.一般(Normal)

限閱(視聽區)

0

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