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分子束磊晶低溫成長砷化鎵電性量測分析
~
陳乃權
分子束磊晶低溫成長砷化鎵電性量測分析
紀錄類型:
微縮資料 : 單行本
作者:
陳乃權
其他作者:
陳振芳
出版地:
台北市
出版者:
國科會科學技術資料中心;
面頁冊數:
127頁 : 11x15公分;
標題:
電子工程 -
附註:
MOE86-0007-8321801-D
分子束磊晶低溫成長砷化鎵電性量測分析
陳乃權
分子束磊晶低溫成長砷化鎵電性量測分析
/ 陳乃權 撰 ; 陳振芳 指導 - 台北市 : 國科會科學技術資料中心 - 127頁 ; 11x15公分.
MOE86-0007-8321801-D.
電子工程
陳振芳
分子束磊晶低溫成長砷化鎵電性量測分析
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20000523
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三樓視聽資料區
館藏
2 筆 • 頁數 1 •
1
條碼號
典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約狀態
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833448600000108
三樓視聽資料區
3.不外借
微縮資料(microform)
MF 448.6 7514 V1
1.一般(Normal)
限閱(視聽區)
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833448600000109
三樓視聽資料區
3.不外借
微縮資料(microform)
MF 448.6 7514 V2
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2 筆 • 頁數 1 •
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