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傳導性電磁干擾雜訊之量測技術比較
~
謝明展
傳導性電磁干擾雜訊之量測技術比較
紀錄類型:
微縮資料 : 單行本
作者:
謝明展
其他作者:
陳秋麟
出版地:
台北市
出版者:
國科會科學技術資料中心;
面頁冊數:
120頁 : 11x15公分;
標題:
電機工程 -
附註:
MOE86-0003-R85523128
傳導性電磁干擾雜訊之量測技術比較
謝明展
傳導性電磁干擾雜訊之量測技術比較
/ 謝明展 撰 ; 陳秋麟 指導 - 台北市 : 國科會科學技術資料中心 - 120頁 ; 11x15公分.
MOE86-0003-R85523128.
電機工程
陳秋麟
傳導性電磁干擾雜訊之量測技術比較
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20000519
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三樓視聽資料區
館藏
2 筆 • 頁數 1 •
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條碼號
典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約狀態
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附件
833448000000310
三樓視聽資料區
3.不外借
微縮資料(microform)
MF 448 0467 V1
1.一般(Normal)
限閱(視聽區)
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833448000000311
三樓視聽資料區
3.不外借
微縮資料(microform)
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2 筆 • 頁數 1 •
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