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以工程資料為基礎之半導體故障分析系統
~
林寅智
以工程資料為基礎之半導體故障分析系統
紀錄類型:
微縮資料 : 單行本
作者:
林寅智
其他作者:
陳飛龍
出版地:
台北市
出版者:
國科會科學技術資料中心;
面頁冊數:
135頁 : 11x15公分;
標題:
工業工程 -
附註:
MOE86-0002-853825
以工程資料為基礎之半導體故障分析系統
林寅智
以工程資料為基礎之半導體故障分析系統
/ 林寅智 撰 ; 陳飛龍 指導 - 台北市 : 國科會科學技術資料中心 - 135頁 ; 11x15公分.
MOE86-0002-853825.
工業工程
陳飛龍
以工程資料為基礎之半導體故障分析系統
LDR
:00372nhm 2200133 450
001
104692
009
8907623
100
$a
20100607 0chiy0900 e
101
$a
chi
102
$a
tw
200
1
$a
以工程資料為基礎之半導體故障分析系統
$f
林寅智 撰
$g
陳飛龍 指導
210
$a
台北市
$c
國科會科學技術資料中心
215
$a
135頁
$d
11x15公分
300
$a
MOE86-0002-853825
606
$a
工業工程
$3
15175
700
$a
林寅智
$4
撰
$3
93950
702
$a
陳飛龍
$4
指導
$3
13149
801
1
$a
TW
$b
大葉大學
$c
20000518
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全部
三樓視聽資料區
館藏
2 筆 • 頁數 1 •
1
條碼號
典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
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借閱狀態
預約狀態
備註欄
附件
833440000000095
三樓視聽資料區
3.不外借
微縮資料(microform)
MF 440 4438 V1
1.一般(Normal)
限閱(視聽區)
0
833440000000096
三樓視聽資料區
3.不外借
微縮資料(microform)
MF 440 4438 V2
1.一般(Normal)
限閱(視聽區)
0
2 筆 • 頁數 1 •
1
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