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矽晶片上氧化層之反射率量測法與leed/aes系統之應用

~

李志浩

矽晶片上氧化層之反射率量測法與leed/aes系統之應用

紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
作者:	李昕治
其他作者:	李志浩
出版地:	台北市
出版者:	國科會科學技術資料中心;
面頁冊數:	90頁 : 11x15公分;
標題:	工程與系統科學 -
附註:	MOE86-0002-853137

矽晶片上氧化層之反射率量測法與leed/aes系統之應用
李昕治

矽晶片上氧化層之反射率量測法與leed/aes系統之應用 / 李昕治撰 ; 李志浩指導 - 台北市 : 國科會科學技術資料中心 - 90頁 ; 11x15公分.
MOE86-0002-853137.
工程與系統科學

李志浩

矽晶片上氧化層之反射率量測法與leed/aes系統之應用
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200 1 $a 矽晶片上氧化層之反射率量測法與leed/aes系統之應用 $f 李昕治撰 $g 李志浩指導
210 $a 台北市 $c 國科會科學技術資料中心
215 $a 90頁 $d 11x15公分
300 $a MOE86-0002-853137
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702 $a 李志浩 $4 指導 $3 60966
801 1 $a TW $b 大葉大學 $c 20000517

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館藏

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典藏地名稱

館藏流通類別

833440000000050

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料(microform)

MF 440 4063

1.一般(Normal)

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