言語:
日文
English
簡体中文
繁體中文
ヘルプ
ログイン
ホームページ
スイッチ:
ラベル
|
MARC形式
|
国際標準書誌記述(ISBD)
具射頻補償之蘭牟爾探針電漿量測系統之研製與量測分析
~
張慶彥
具射頻補償之蘭牟爾探針電漿量測系統之研製與量測分析
レコード種別:
マイクロフィルム : モノグラフ
著者:
張慶彥
副次的な著作責任 :
柳克強
副次的な著作責任 :
林滄浪
出版地:
台北市
出版された:
國科會科學技術資料中心;
記述:
136頁 : 11x15公分;
主題:
工程與系統科學 -
注記:
MOE86-0002-853119
具射頻補償之蘭牟爾探針電漿量測系統之研製與量測分析
張慶彥
具射頻補償之蘭牟爾探針電漿量測系統之研製與量測分析
/ 張慶彥 撰 ; 柳克強 指導 - 台北市 : 國科會科學技術資料中心 - 136頁 ; 11x15公分.
MOE86-0002-853119.
工程與系統科學
柳克強
具射頻補償之蘭牟爾探針電漿量測系統之研製與量測分析
LDR
:00411nhm 2200133 450
001
104317
009
8907077
100
$a
20100607 0chiy0900 e
101
$a
chi
102
$a
tw
200
1
$a
具射頻補償之蘭牟爾探針電漿量測系統之研製與量測分析
$f
張慶彥 撰
$g
柳克強 指導
$g
林滄浪 指導
210
$a
台北市
$c
國科會科學技術資料中心
215
$a
136頁
$d
11x15公分
300
$a
MOE86-0002-853119
606
$a
工程與系統科學
$3
93547
700
$a
張慶彥
$4
撰
$3
93563
702
$a
柳克強
$4
指導
$3
93555
702
$a
林滄浪
$4
指導
$3
60365
801
1
$a
TW
$b
大葉大學
$c
20000517
~に基づいて 0 論評
全部
三樓視聽資料區
所藏資料
2 レコード • ページ 1 •
1
[NT 5000115] Inventory Number
所在地名称
所藏類別
一般資料表示
請求記号
使用種類
貸出状況
予約数
OPAC注記
付属資料
833440000000027
三樓視聽資料區
3.不外借
微縮資料(microform)
MF 440 1100 V1
1.一般(Normal)
[NT 15000103] null
0
833440000000028
三樓視聽資料區
3.不外借
微縮資料(microform)
MF 440 1100 V2
1.一般(Normal)
[NT 15000103] null
0
2 レコード • ページ 1 •
1
論評
論評を追加
あなたの考えを共有してください。
Export
受取館
処理
...
パスワードを変更する
ログイン