語系:
繁體中文
English
日文
簡体中文
說明(常見問題)
登入
回首頁
切換:
標籤
|
MARC模式
|
ISBD
具射頻補償之蘭牟爾探針電漿量測系統之研製與量測分析
~
張慶彥
具射頻補償之蘭牟爾探針電漿量測系統之研製與量測分析
紀錄類型:
微縮資料 : 單行本
作者:
張慶彥
其他作者:
柳克強
其他作者:
林滄浪
出版地:
台北市
出版者:
國科會科學技術資料中心;
面頁冊數:
136頁 : 11x15公分;
標題:
工程與系統科學 -
附註:
MOE86-0002-853119
具射頻補償之蘭牟爾探針電漿量測系統之研製與量測分析
張慶彥
具射頻補償之蘭牟爾探針電漿量測系統之研製與量測分析
/ 張慶彥 撰 ; 柳克強 指導 - 台北市 : 國科會科學技術資料中心 - 136頁 ; 11x15公分.
MOE86-0002-853119.
工程與系統科學
柳克強
具射頻補償之蘭牟爾探針電漿量測系統之研製與量測分析
LDR
:00411nhm 2200133 450
001
104317
009
8907077
100
$a
20100607 0chiy0900 e
101
$a
chi
102
$a
tw
200
1
$a
具射頻補償之蘭牟爾探針電漿量測系統之研製與量測分析
$f
張慶彥 撰
$g
柳克強 指導
$g
林滄浪 指導
210
$a
台北市
$c
國科會科學技術資料中心
215
$a
136頁
$d
11x15公分
300
$a
MOE86-0002-853119
606
$a
工程與系統科學
$3
93547
700
$a
張慶彥
$4
撰
$3
93563
702
$a
柳克強
$4
指導
$3
93555
702
$a
林滄浪
$4
指導
$3
60365
801
1
$a
TW
$b
大葉大學
$c
20000517
筆 0 讀者評論
全部
三樓視聽資料區
館藏
2 筆 • 頁數 1 •
1
條碼號
典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約狀態
備註欄
附件
833440000000027
三樓視聽資料區
3.不外借
微縮資料(microform)
MF 440 1100 V1
1.一般(Normal)
限閱(視聽區)
0
833440000000028
三樓視聽資料區
3.不外借
微縮資料(microform)
MF 440 1100 V2
1.一般(Normal)
限閱(視聽區)
0
2 筆 • 頁數 1 •
1
評論
新增評論
分享你的心得
Export
取書館別
處理中
...
變更密碼
登入