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電漿蝕刻導致金氧半元件電性衰退之分析研究
~
張廖貴術
電漿蝕刻導致金氧半元件電性衰退之分析研究
紀錄類型:
微縮資料 : 單行本
作者:
李仁杰
其他作者:
張廖貴術
出版地:
台北市
出版者:
國科會科學技術資料中心;
面頁冊數:
121頁 : 11x15公分;
標題:
工程與系統科學 -
附註:
MOE86-0002-853113
電漿蝕刻導致金氧半元件電性衰退之分析研究
李仁杰
電漿蝕刻導致金氧半元件電性衰退之分析研究
/ 李仁杰 撰 ; 張廖貴術 指導 - 台北市 : 國科會科學技術資料中心 - 121頁 ; 11x15公分.
MOE86-0002-853113.
工程與系統科學
張廖貴術
電漿蝕刻導致金氧半元件電性衰退之分析研究
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20000517
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三樓視聽資料區
館藏
2 筆 • 頁數 1 •
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條碼號
典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約狀態
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833440000000019
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3.不外借
微縮資料(microform)
MF 440 4024 V1
1.一般(Normal)
限閱(視聽區)
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833440000000020
三樓視聽資料區
3.不外借
微縮資料(microform)
MF 440 4024 V2
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2 筆 • 頁數 1 •
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