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以x光繞設法量測偏跛頗取向之氮化物膜之殘餘應力=measurements... ~ 國立中山大學材料科學工程研究所

 

• 以x光繞設法量測偏跛頗取向之氮化物膜之殘餘應力=measurements of residual stresses in textured nitride films by x-ray diffr

• 紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
  作者:	黃炳淮
  其他團體作者:	國立中山大學材料科學工程研究所
  出版地:	台北市
  出版者:	科學技術資料中心;
  面頁冊數:	78頁 : 11x15公分;
  附註:	NSC-84-2216-E110-016

• 以x光繞設法量測偏跛頗取向之氮化物膜之殘餘應力=measurements of residual stresses in textured nitride films by x-ray diffr
• 黃炳淮
  
  以x光繞設法量測偏跛頗取向之氮化物膜之殘餘應力=measurements of residual stresses in textured nitride films by x-ray diffr / 黃炳淮 ; 國立中山大學材料科學工程研究所 - 台北市 : 科學技術資料中心 - 78頁 ; 11x15公分.
  NSC-84-2216-E110-016.

• 以x光繞設法量測偏跛頗取向之氮化物膜之殘餘應力=measurements of residual stresses in textured nitride films by x-ray diffr
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條碼號	典藏地名稱	館藏流通類別	資料類型	索書號	使用類型	借閱狀態	預約狀態	備註欄	附件
804440130000097	三樓視聽資料區	3.不外借	微縮資料(microform)	MF 440.13 4480	1.一般(Normal)	在架	0

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