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次微米元件內熱載子所產生界面缺陷隊員建特性的影響=effect of i...

交通大學電子工程學系

次微米元件內熱載子所產生界面缺陷隊員建特性的影響=effect of interface state genertion by hot carrier stree in submicron m

次微米元件內熱載子所產生界面缺陷隊員建特性的影響=effect of interface state genertion by hot carrier stree in submicron m
汪大輝

次微米元件內熱載子所產生界面缺陷隊員建特性的影響=effect of interface state genertion by hot carrier stree in submicron m / 汪大輝 ; 交通大學電子工程學系 - 台北市 : 科學技術資料中心 - 117頁 ; 11x15公分.
NSC84-2215-E009-006.

次微米元件內熱載子所產生界面缺陷隊員建特性的影響=effect of interface state genertion by hot carrier stree in submicron m
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