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Celano, Umberto.

概要

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書目資訊

Metrology and physical mechanisms in new generation ionic devices[electronic resource] / by: Celano, Umberto.; SpringerLink (Online service) (書目-電子資源)

主題

Electronic apparatus and appliances. Nonvolatile random-access memory. Spectroscopy and Microscopy. Nanotechnology and Microengineering. Thin films. Physics. Characterization and Evaluation of Materials. Metrology.

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