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[NT 60476] Jump To : 概要 | 书目信息 | 主题

Voigtlander, Bert.

概要

作品:	1 作品在 1 项出版品 1 种语言

书目信息

Scanning probe microscopy[electronic resource] :atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy / by: SpringerLink (Online service); Voigtlander, Bert. (书目-语言数据,印刷品)

主题

Nanotechnology. Condensed Matter Physics. Atomic force microscopy. Materials Science. Nanotechnology and Microengineering. Scanning probe microscopy. Scanning tunneling microscopy.

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