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Rong, Yonghua.

概観

著作:	2 作品に 1 出版物中に 1 言語

タイトル

Characterization of microstructures by analytical electron microscopy (AEM)[electronic resource] / …で: Rong, Yonghua.; SpringerLink (Online service) (言語・文字資料 (印刷物))

主題

Nanostructured materials Electron microscopy. Condensed Matter Physics. Optics, Optoelectronics, Plasmonics and Optical Devices. Materials Science. Characterization and Evaluation of Materials.

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