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[NT 60476] Jump To : 概要 | 书目信息 | 主题

Rong, Yonghua.

概要

作品:	2 作品在 1 项出版品 1 种语言

书目信息

Characterization of microstructures by analytical electron microscopy (AEM)[electronic resource] / by: Rong, Yonghua.; SpringerLink (Online service) (书目-语言数据,印刷品)

主题

Nanostructured materials Electron microscopy. Condensed Matter Physics. Optics, Optoelectronics, Plasmonics and Optical Devices. Materials Science. Characterization and Evaluation of Materials.

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