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深次微米 mos及soi元件的模擬,分析及技術發展(i)=simulat...
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交大電子工程研究所

 

  • 深次微米 mos及soi元件的模擬,分析及技術發展(i)=simulation,characterization and techrology for deep submicrometer mos and.
  • 紀錄類型: 微縮資料 : 單行本
    其他作者: 吳慶源
    團體作者: 交大電子工程研究所
    出版地: 台北市
    出版者: 科學技術資料中心;
    出版年: 1996
    面頁冊數: 11x15公分;
    附註: NSC83-0404-E009-016
館藏
  • 6 筆 • 頁數 1 •
 
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