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多晶片模組設計自動化與測試系統-子計畫一:在mcm環境下之測試樣 本產生... ~ 台灣大學電機工程學研究所

 

• 多晶片模組設計自動化與測試系統-子計畫一:在mcm環境下之測試樣 本產生系統=test gemeration system in the mcm enviroment

• 紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
  其他作者:	林呈祥
  團體作者:	台灣大學電機工程學研究所
  出版地:	台北市
  出版者:	科學技術資料中心;
  出版年:	1994
  面頁冊數:	38頁 : 11x15公分;
  附註:	NSC83-0404-E002-055

• 多晶片模組設計自動化與測試系統-子計畫一:在mcm環境下之測試樣 本產生系統=test gemeration system in the mcm enviroment
• 台灣大學電機工程學研究所
  
  多晶片模組設計自動化與測試系統-子計畫一:在mcm環境下之測試樣 本產生系統=test gemeration system in the mcm enviroment / 台灣大學電機工程學研究所 ; 林呈祥 著 - 台北市 : 科學技術資料中心, 1994. - 38頁 ; 11x15公分.
  NSC83-0404-E002-055.
  
  林呈祥

• 多晶片模組設計自動化與測試系統-子計畫一:在mcm環境下之測試樣 本產生系統=test gemeration system in the mcm enviroment
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804621300000149	三樓視聽資料區	3.不外借	微縮資料(microform)	MF 621.3 XXXX	1.一般(Normal)	在架	0

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