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深測微米元件的模擬分析及技術發展(ii)=simulation,char...
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交通大學電子工程研究所

 

  • 深測微米元件的模擬分析及技術發展(ii)=simulation,characterization and technology for deep submicrometer devices
  • 紀錄類型: 微縮資料 : 單行本
    其他作者: 吳慶源
    團體作者: 交通大學電子工程研究所
    出版地: 台北市
    出版者: 科學技術資料中心;
    出版年: 1993
    面頁冊數: 823頁 : 11x15公分;
    附註: NSC82-0404-E009-216
館藏
  • 9 筆 • 頁數 1 •
 
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