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毫微米元件電子束曝光精確度之研究=an improrement of ...
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中村-光張俊彥
毫微米元件電子束曝光精確度之研究=an improrement of the electron baem exposura accruacy
紀錄類型:
微縮資料 : 單行本
團體作者:
中村-光張俊彥
其他團體作者:
交大電子工程研究所
出版地:
台北市
出版者:
科學技術資料中心;
出版年:
1996
面頁冊數:
38頁 : 11x15公分;
附註:
NSC82-0404-E009-202
毫微米元件電子束曝光精確度之研究=an improrement of the electron baem exposura accruacy
中村-光張俊彥
毫微米元件電子束曝光精確度之研究=an improrement of the electron baem exposura accruacy
/ 中村-光張俊彥 ; 交大電子工程研究所 - 台北市 : 科學技術資料中心, 1996. - 38頁 ; 11x15公分.
NSC82-0404-E009-202.
毫微米元件電子束曝光精確度之研究=an improrement of the electron baem exposura accruacy
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