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建立電容 : 電壓量測試技術量測半導體材料縱剖面摻雜濃度
~
廖峯輝
建立電容 : 電壓量測試技術量測半導體材料縱剖面摻雜濃度
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
作者:
陳妍潔
其他作者:
廖峯輝
其他作者:
江珮華
出版地:
彰化縣大村鄉
出版者:
大葉大學電機工程學系所;
出版年:
2009
版本:
初版
面頁冊數:
49頁 : 30x21公分;
標題:
電機工程 -
附註:
蕭宏彬 指導
建立電容 : 電壓量測試技術量測半導體材料縱剖面摻雜濃度
陳妍潔
建立電容 : 電壓量測試技術量測半導體材料縱剖面摻雜濃度
/ 陳妍潔 撰 ; 廖峯輝 撰 - 初版. - 彰化縣大村鄉 : 大葉大學電機工程學系所, 2009. - 49頁 ; 30x21公分.
蕭宏彬 指導.
電機工程
廖峯輝
建立電容 : 電壓量測試技術量測半導體材料縱剖面摻雜濃度
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大葉大學
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20090517
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二樓學生專題報告區
館藏
1 筆 • 頁數 1 •
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827448000000602
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學生專題報告(student report)
GR 448 7543-A
1.一般(Normal)
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