tin在鋁銅合金上電子遷移之影響=effect of lnterface...
清華大學電機工程研究所

 

  • tin在鋁銅合金上電子遷移之影響=effect of lnterface layer tin on electromigration of al-based alloys
  • 紀錄類型: 微縮資料 : 單行本
    作者: 葉鳳生
    其他團體作者: 清華大學電機工程研究所
    出版地: 台北市
    出版者: 科學技術資料中心;
    面頁冊數: 62頁 : 11x15公分;
    附註: NSC84-2215-E007-001
館藏
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804337000000038 三樓視聽資料區 3.不外借 微縮資料 MF 337 4490 1.一般(Normal) 在架 0
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