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中子活化分析技術的開發及改進與應用(i)-子計劃八:以naa分析矽半導體... ~ 張廖貴術

 

• 中子活化分析技術的開發及改進與應用(i)-子計劃八:以naa分析矽半導體材料與元件之元素含量=determination of trace elements in

• 紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
  作者:	張廖貴術
  其他團體作者:	清華大學核工程與工程物理研究所
  出版地:	台北市
  出版者:	科學技術資料中心;
  面頁冊數:	35頁 : 11x15公分;
  附註:	NSC852212E007076

• 中子活化分析技術的開發及改進與應用(i)-子計劃八:以naa分析矽半導體材料與元件之元素含量=determination of trace elements in
• 張廖貴術
  
  中子活化分析技術的開發及改進與應用(i)-子計劃八:以naa分析矽半導體材料與元件之元素含量=determination of trace elements in / 張廖貴術 ; 清華大學核工程與工程物理研究所 - 台北市 : 科學技術資料中心 - 35頁 ; 11x15公分.
  NSC852212E007076.

• 中子活化分析技術的開發及改進與應用(i)-子計劃八:以naa分析矽半導體材料與元件之元素含量=determination of trace elements in
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條碼號	典藏地名稱	館藏流通類別	資料類型	索書號	使用類型	借閱狀態	預約狀態	備註欄	附件
804449000000164	三樓視聽資料區	3.不外借	微縮資料	MF 449 1123	1.一般(Normal)	在架	0

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