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積體電路生產線上各檢驗站缺陷數與產品良率關聯性之研究
~
唐麗英
積體電路生產線上各檢驗站缺陷數與產品良率關聯性之研究
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
作者:
李威儀
其他作者:
唐麗英
其他作者:
黃建隆
出版地:
新竹市
出版者:
交通大學;
出版年:
1996
面頁冊數:
33頁 : 29x21公分;
標題:
積體電路 -
積體電路生產線上各檢驗站缺陷數與產品良率關聯性之研究
李威儀
積體電路生產線上各檢驗站缺陷數與產品良率關聯性之研究
/ 李威儀 指導 ; 唐麗英 指導 - 新竹市 : 交通大學, 1996. - 33頁 ; 29x21公分.
積體電路
唐麗英
積體電路生產線上各檢驗站缺陷數與產品良率關聯性之研究
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19961122
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三樓中文圖書區
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818448878000018
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1.圖書流通
學位論文(校外)
T 448.878 4417
1.一般(Normal)
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