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方位估計之新訊號源個數偵測法及頻寬效應分析=a novel source... ~ 成功大學電機工程學研究所

 

• 方位估計之新訊號源個數偵測法及頻寬效應分析=a novel source number defection and the analysis of bandwidth degradation...

• 紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
  其他作者:	楊家輝
  團體作者:	成功大學電機工程學研究所
  出版地:	台北市
  出版者:	科學技術資料中心;
  出版年:	1994
  面頁冊數:	70頁 : 11x15公分;
  附註:	NSC83-0404-E006-074

• 方位估計之新訊號源個數偵測法及頻寬效應分析=a novel source number defection and the analysis of bandwidth degradation...
• 成功大學電機工程學研究所
  
  方位估計之新訊號源個數偵測法及頻寬效應分析=a novel source number defection and the analysis of bandwidth degradation... / 成功大學電機工程學研究所 ; 楊家輝 著 - 台北市 : 科學技術資料中心, 1994. - 70頁 ; 11x15公分.
  NSC83-0404-E006-074.
  
  楊家輝

• 方位估計之新訊號源個數偵測法及頻寬效應分析=a novel source number defection and the analysis of bandwidth degradation...
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條碼號	典藏地名稱	館藏流通類別	資料類型	索書號	使用類型	借閱狀態	預約狀態	備註欄	附件
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