回首頁

切換: 標籤 | MARC模式 | ISBD

積體電路與積體系統-子計畫七:電流測試法之研究及其在多晶片模組之應用=o... ~ 成功大學電機工程學研究所

 

• 積體電路與積體系統-子計畫七:電流測試法之研究及其在多晶片模組之應用=on the iddq testing and its application to mutiple...

• 紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
  其他作者:	李昆忠
  團體作者:	成功大學電機工程學研究所
  出版地:	台北市
  出版者:	科學技術資料中心;
  出版年:	1994
  面頁冊數:	76頁 : 11x15公分;
  附註:	NSC83-0404-E006-036

• 積體電路與積體系統-子計畫七:電流測試法之研究及其在多晶片模組之應用=on the iddq testing and its application to mutiple...
• 成功大學電機工程學研究所
  
  積體電路與積體系統-子計畫七:電流測試法之研究及其在多晶片模組之應用=on the iddq testing and its application to mutiple... / 成功大學電機工程學研究所 ; 李昆忠 著 - 台北市 : 科學技術資料中心, 1994. - 76頁 ; 11x15公分.
  NSC83-0404-E006-036.
  
  李昆忠

• 積體電路與積體系統-子計畫七:電流測試法之研究及其在多晶片模組之應用=on the iddq testing and its application to mutiple...
• LDR:00505nhm 2200133 450 001 67340
  009 8512708
  100 $a  20100607d1994 0chiy0900 e
  101 $a  chi
  102 $a  tw
  200 1 $a  積體電路與積體系統-子計畫七:電流測試法之研究及其在多晶片模組之應用=on the iddq testing and its application to mutiple... $f  成功大學電機工程學研究所 $g  李昆忠 著
  210 $a  台北市 $c  科學技術資料中心 $d  1994
  215 $a  76頁 $d  11x15公分
  300 $a  NSC83-0404-E006-036
  702 $a  李昆忠 $4  著 $3  64369
  710 $a  成功大學電機工程學研究所 $3  64368
  801 1 $a  TW $b  大葉大學 $c  19960830
  

筆 0 讀者評論

全部 三樓視聽資料區

館藏

• 1 筆 • 頁數 1 •
• 1

條碼號	典藏地名稱	館藏流通類別	資料類型	索書號	使用類型	借閱狀態	預約狀態	備註欄	附件
804448000000719	三樓視聽資料區	3.不外借	微縮資料	MF 448 XXXX	1.一般(Normal)	在架	0

• 1 筆 • 頁數 1 •
• 1

評論

• 新增評論 分享你的心得

2008 傳技資訊 最佳瀏覽使用FireFox或IE7.0以上版本 建議您至http://moztw.org/或http://www.microsoft.com/taiwan/windows/ie/downloads/default.mspx下載 v3.1.1.2