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超大型積體電路之測試與可測試研究=vlsi testing and de...
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交通大學電子工程研究所
超大型積體電路之測試與可測試研究=vlsi testing and design for testability
纪录类型:
[NT 13] Microfilm : 单行本
其他作者:
李崇仁
团体作者:
交通大學電子工程研究所
出版地:
台北市
出版者:
科學技術資料中心;
出版年:
1992
面页册数:
322頁 : 11x15公分;
附注:
NSC81-0404-E009-136
超大型積體電路之測試與可測試研究=vlsi testing and design for testability
交通大學電子工程研究所
超大型積體電路之測試與可測試研究=vlsi testing and design for testability
/ 交通大學電子工程研究所 ; 李崇仁 著 - 台北市 : 科學技術資料中心, 1992. - 322頁 ; 11x15公分.
NSC81-0404-E009-136.
李崇仁
超大型積體電路之測試與可測試研究=vlsi testing and design for testability
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大葉大學
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19960814
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