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快速與光電元件及毫微米結構之特性與可靠性研究=characterizat...
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交通大學電子工程研究所
快速與光電元件及毫微米結構之特性與可靠性研究=characterization and reliability of high-speed, optoelectronic and nano st.
レコード種別:
マイクロフィルム : モノグラフ
副次的な著作責任 :
施敏
団体:
交通大學電子工程研究所
出版地:
台北市
出版された:
科學技術資料中心;
出版年:
1993
記述:
190頁 : 11x15公分;
注記:
NSC82-0404-E009-239
快速與光電元件及毫微米結構之特性與可靠性研究=characterization and reliability of high-speed, optoelectronic and nano st.
交通大學電子工程研究所
快速與光電元件及毫微米結構之特性與可靠性研究=characterization and reliability of high-speed, optoelectronic and nano st.
/ 交通大學電子工程研究所 ; 施敏 著 - 台北市 : 科學技術資料中心, 1993. - 190頁 ; 11x15公分.
NSC82-0404-E009-239.
施敏
快速與光電元件及毫微米結構之特性與可靠性研究=characterization and reliability of high-speed, optoelectronic and nano st.
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19960812
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[NT 5000115] Inventory Number
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付属資料
804621381000038
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3.不外借
微縮資料
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在籍
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三樓視聽資料區
3.不外借
微縮資料
MF 621.381 XXXX V2
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