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藉x光全反射法研究半導體材料披覆層之介面結構=study of the ... ~ 李志浩

 

• 藉x光全反射法研究半導體材料披覆層之介面結構=study of the interface structure fo and overlayer on the semiconductor...

• 紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
  其他作者:	李志浩
  團體作者:	行政院同步輻射研究中心籌建處
  出版地:	台北市
  出版者:	科學技術資料中心;
  出版年:	1992
  面頁冊數:	72頁 : 11x15公分;
  附註:	NSC81-0208-M213-004

• 藉x光全反射法研究半導體材料披覆層之介面結構=study of the interface structure fo and overlayer on the semiconductor...
• 行政院同步輻射研究中心籌建處
  
  藉x光全反射法研究半導體材料披覆層之介面結構=study of the interface structure fo and overlayer on the semiconductor... / 行政院同步輻射研究中心籌建處 ; 李志浩 著 - 台北市 : 科學技術資料中心, 1992. - 72頁 ; 11x15公分.
  NSC81-0208-M213-004.
  
  李志浩

• 藉x光全反射法研究半導體材料披覆層之介面結構=study of the interface structure fo and overlayer on the semiconductor...
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條碼號	典藏地名稱	館藏流通類別	資料類型	索書號	使用類型	借閱狀態	預約狀態	備註欄	附件
804339400000010	三樓視聽資料區	3.不外借	微縮資料	MF 339.4 XXXX	1.一般(Normal)	在架	0

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