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容錯讀寫型可程式邏輯簇之真時偵錯設計=concurrent testab...
~
張慶元
容錯讀寫型可程式邏輯簇之真時偵錯設計=concurrent testable design for fault-tolerant ram-based plas
レコード種別:
マイクロフィルム : モノグラフ
著者:
張慶元
副次的な著作責任 :
清華大學電機所
出版地:
台北市
出版された:
科學技術資料中心;
出版年:
1991
記述:
42頁 : 11x15公分;
注記:
NSC80-0404-E007-018
容錯讀寫型可程式邏輯簇之真時偵錯設計=concurrent testable design for fault-tolerant ram-based plas
張慶元
容錯讀寫型可程式邏輯簇之真時偵錯設計=concurrent testable design for fault-tolerant ram-based plas
/ 張慶元 著 ; 清華大學電機所 - 台北市 : 科學技術資料中心, 1991. - 42頁 ; 11x15公分.
NSC80-0404-E007-018.
容錯讀寫型可程式邏輯簇之真時偵錯設計=concurrent testable design for fault-tolerant ram-based plas
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19960705
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三樓視聽資料區
所藏資料
1 レコード • ページ 1 •
1
[NT 5000115] Inventory Number
所在地名称
所藏類別
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使用種類
貸出状況
予約数
OPAC注記
付属資料
804448000000144
三樓視聽資料區
3.不外借
微縮資料
MF 448 XXXX
1.一般(Normal)
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0
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