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使用x光反射率法研究銀膜成長在矽基板上時表面粗糙度的演變

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林煜修

使用x光反射率法研究銀膜成長在矽基板上時表面粗糙度的演變

紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
作者:	林煜修
其他團體作者:	清華大學工程與系統科學所
出版者:	行政院國家科學委員會科學技術資料中心;
出版年:	1999
面頁冊數:	57頁 : 11x15公分;
標題:	工程與系統科學 -
附註:	MOE88-0002-873125

使用x光反射率法研究銀膜成長在矽基板上時表面粗糙度的演變
林煜修

使用x光反射率法研究銀膜成長在矽基板上時表面粗糙度的演變 / 林煜修撰 ; 清華大學工程與系統科學所 : 行政院國家科學委員會科學技術資料中心, 1999. - 57頁 ; 11x15公分.
MOE88-0002-873125.
工程與系統科學

使用x光反射率法研究銀膜成長在矽基板上時表面粗糙度的演變
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館藏

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典藏地名稱

館藏流通類別

833440000001189

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料

MF 440 4492

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