大葉大學圖書館 |

語系: 繁體中文

說明(常見問題)

登入

回首頁

切換: 標籤 | MARC模式 | ISBD

絕緣體上矽薄膜(soi)元件的最佳化設計及良率評估

~

楊炳章

絕緣體上矽薄膜(soi)元件的最佳化設計及良率評估

紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
作者:	楊炳章
其他團體作者:	逢甲大學電機工程學系
出版地:	台北市
出版者:	行政院國家科學委員會科學技術資料中心;
面頁冊數:	58頁 : 11x15公分;
標題:	電機工程 -
附註:	NSC86-2215-E035-004

絕緣體上矽薄膜(soi)元件的最佳化設計及良率評估
楊炳章

絕緣體上矽薄膜(soi)元件的最佳化設計及良率評估 / 楊炳章撰 ; 逢甲大學電機工程學系 - 台北市 : 行政院國家科學委員會科學技術資料中心 - 58頁 ; 11x15公分.
NSC86-2215-E035-004.
電機工程

絕緣體上矽薄膜(soi)元件的最佳化設計及良率評估
LDR:00398nhm 2200133 450 001 302523
009 9110828
100 $a 20100608 0chiy0900 e
101 $a chi
102 $a tw
200 1 $a 絕緣體上矽薄膜(soi)元件的最佳化設計及良率評估 $f 楊炳章撰 $g 逢甲大學電機工程學系
210 $a 台北市 $c 行政院國家科學委員會科學技術資料中心
215 $a 58頁 $d 11x15公分
300 $a NSC86-2215-E035-004
606 $a 電機工程 $3 9918
700 $a 楊炳章 $4 撰 $3 79153
712 $a 逢甲大學電機工程學系 $3 64308
801 1 $a TW $b 大葉大學 $c 20020326

筆 0 讀者評論

館藏

1 筆 • 頁數 1 •
1

典藏地名稱

館藏流通類別

804448000001565

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料

MF 448 4690

1.一般(Normal)

在架

0

1 筆 • 頁數 1 •
1

評論

新增評論分享你的心得

Export

取書館別

變更密碼

登入