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利用振盪源測試來偵測位於數位電路中的藕合障礙

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交通大學電子工程所

利用振盪源測試來偵測位於數位電路中的藕合障礙

紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
作者:	張志鶻
其他團體作者:	交通大學電子工程所
出版者:	行政院國家科學委員會科學技術資料中心;
出版年:	1999
面頁冊數:	54頁 : 11x15公分;
標題:	電子工程 -
附註:	MOE88-0007-8711621

利用振盪源測試來偵測位於數位電路中的藕合障礙
張志鶻

利用振盪源測試來偵測位於數位電路中的藕合障礙 / 張志鶻撰 ; 交通大學電子工程所 : 行政院國家科學委員會科學技術資料中心, 1999. - 54頁 ; 11x15公分.
MOE88-0007-8711621.
電子工程

利用振盪源測試來偵測位於數位電路中的藕合障礙
LDR:00398nhm 2200133 450 001 291044
009 9205062
100 $a 20100608d1999 0chiy0900 e
101 $a chi
102 $a tw
200 1 $a 利用振盪源測試來偵測位於數位電路中的藕合障礙 $f 張志鶻撰 $g 交通大學電子工程所
210 $c 行政院國家科學委員會科學技術資料中心 $d 1999
215 $a 54頁 $d 11x15公分
300 $a MOE88-0007-8711621
606 $a 電子工程 $3 505
700 $a 張志鶻 $4 撰 $3 319418
712 $a 交通大學電子工程所 $3 319146
801 1 $a TW $b 大葉大學 $c 20030307

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館藏

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典藏地名稱

館藏流通類別

833448600001105

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料

MF 448.6 1147-A

1.一般(Normal)

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