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Vlsi fault modeling and testing tech...

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ZobristGeorge W.

Vlsi fault modeling and testing techniques

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
書名/作者:	Vlsi fault modeling and testing techniques/ Zobrist,George W.
作者:	ZobristGeorge W.
出版者:	New Jersey : Ablex Publishing Corporation, 1993
面頁冊數:	199頁; 23x16公分
標題:	Integrated circuits-Very large
標題:	Scale integration-Testing-...
標題:	Fault-Tolerant computing
ISBN:	0893917818(精裝)

Vlsi fault modeling and testing techniques
ZobristGeorge W.

Vlsi fault modeling and testing techniquesZobrist,George W. - New JerseyAblex Publishing Corporation1993 - 199頁23x16公分

ISBN: 0893917818(精裝)Subjects--Topical Terms:

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Integrated circuits-Very large

Vlsi fault modeling and testing techniques
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館藏

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1

典藏地名稱

館藏流通類別

801621395000059

四樓西文圖書區

1.圖書流通

圖書

621.395 Z71

1.一般(Normal)

在架

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