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快閃式記憶元件中熱載子注入導致的可靠性問題研究

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易成名

快閃式記憶元件中熱載子注入導致的可靠性問題研究

紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
作者:	易成名
出版地:	台北市
出版者:	國科會科學技術資料中心;
面頁冊數:	183頁 :
標題:	電子工程 -
附註:	MOE87-0007-8111552-D;芳紹勳指導教授

快閃式記憶元件中熱載子注入導致的可靠性問題研究
易成名

快閃式記憶元件中熱載子注入導致的可靠性問題研究 / 易成名撰 - 台北市 : 國科會科學技術資料中心 - 183頁.
MOE87-0007-8111552-D;芳紹勳指導教授.
電子工程

快閃式記憶元件中熱載子注入導致的可靠性問題研究
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典藏地名稱

館藏流通類別

833448600000726

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3.不外借

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MF 448.6 6052 V1

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833448600000727

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3.不外借

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MF 448.6 6052 V2

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