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降低p型閘的複晶矽空乏效應
~
吳祝菁
降低p型閘的複晶矽空乏效應
紀錄類型:
微縮資料 : 單行本
作者:
吳祝菁
其他作者:
羅正忠
出版地:
台北市
出版者:
國科會科學技術資料中心;
面頁冊數:
68頁 : 11x15公分;
標題:
電子工程 -
附註:
MOE86-0007-8511545
降低p型閘的複晶矽空乏效應
吳祝菁
降低p型閘的複晶矽空乏效應
/ 吳祝菁 撰 ; 羅正忠 指導 - 台北市 : 國科會科學技術資料中心 - 68頁 ; 11x15公分.
MOE86-0007-8511545.
電子工程
羅正忠
降低p型閘的複晶矽空乏效應
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20000524
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全部
三樓視聽資料區
館藏
1 筆 • 頁數 1 •
1
條碼號
典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約狀態
備註欄
附件
833448600000167
三樓視聽資料區
3.不外借
微縮資料
MF 448.6 6034
1.一般(Normal)
限閱(視聽區)
0
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