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Rong, Yonghua.

概要

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書目資訊

Characterization of microstructures by analytical electron microscopy (AEM)[electronic resource] / by: Rong, Yonghua.; SpringerLink (Online service) (書目-語言資料,印刷品)

主題

Nanostructured materials Electron microscopy. Condensed Matter Physics. Optics, Optoelectronics, Plasmonics and Optical Devices. Materials Science. Characterization and Evaluation of Materials.

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