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金氧半元件長時間可靠性之改善與其物理機製之研究
~
張廖貴術
金氧半元件長時間可靠性之改善與其物理機製之研究
紀錄類型:
微縮資料 : 單行本
作者:
張廖貴術
其他團體作者:
清華大學核子工程與工程物理研究
出版地:
台北市
出版者:
科學技術資料中心;
面頁冊數:
124頁 : 11x15公分;
附註:
NSC84-2215-E007-026
金氧半元件長時間可靠性之改善與其物理機製之研究
張廖貴術
金氧半元件長時間可靠性之改善與其物理機製之研究
/ 張廖貴術 ; 清華大學核子工程與工程物理研究 - 台北市 : 科學技術資料中心 - 124頁 ; 11x15公分.
NSC84-2215-E007-026.
金氧半元件長時間可靠性之改善與其物理機製之研究
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19991231
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三樓視聽資料區
館藏
2 筆 • 頁數 1 •
1
條碼號
典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
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借閱狀態
預約狀態
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804449000000175
三樓視聽資料區
3.不外借
微縮資料
MF 449 1123 V1
1.一般(Normal)
在架
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804449000000176
三樓視聽資料區
3.不外借
微縮資料
MF 449 1123 V2
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在架
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2 筆 • 頁數 1 •
1
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