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多晶片模組電性分析.設計及測試研究:子計畫五-在mcm環境下之壓縮樣本產...

台灣大學電機工程學系

多晶片模組電性分析.設計及測試研究:子計畫五-在mcm環境下之壓縮樣本產生=compact test pattern generation unter mcm enviromen

多晶片模組電性分析.設計及測試研究:子計畫五-在mcm環境下之壓縮樣本產生=compact test pattern generation unter mcm enviromen
林呈祥

多晶片模組電性分析.設計及測試研究:子計畫五-在mcm環境下之壓縮樣本產生=compact test pattern generation unter mcm enviromen / 林呈祥 ; 台灣大學電機工程學系 - 台北市 : 科學技術資料中心 - 38頁 ; 11x15公分.
NSC84-2215-E002-033.

多晶片模組電性分析.設計及測試研究:子計畫五-在mcm環境下之壓縮樣本產生=compact test pattern generation unter mcm enviromen
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