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多晶片模組電性分析設計及測試研究-子計劃四:在mcm環境下之測試樣本產生... ~ 台灣大學電機工程學系

 

• 多晶片模組電性分析設計及測試研究-子計劃四:在mcm環境下之測試樣本產生研究=econonic test generation under mcm environment

• 紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
  作者:	林呈祥
  其他團體作者:	台灣大學電機工程學系
  出版地:	台北市
  出版者:	科學技術資料中心;
  面頁冊數:	28頁 : 11x15公分;
  附註:	NSC852221E002060

• 多晶片模組電性分析設計及測試研究-子計劃四:在mcm環境下之測試樣本產生研究=econonic test generation under mcm environment
• 林呈祥
  
  多晶片模組電性分析設計及測試研究-子計劃四:在mcm環境下之測試樣本產生研究=econonic test generation under mcm environment / 林呈祥 ; 台灣大學電機工程學系 - 台北市 : 科學技術資料中心 - 28頁 ; 11x15公分.
  NSC852221E002060.

• 多晶片模組電性分析設計及測試研究-子計劃四:在mcm環境下之測試樣本產生研究=econonic test generation under mcm environment
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條碼號	典藏地名稱	館藏流通類別	資料類型	索書號	使用類型	借閱狀態	預約狀態	備註欄	附件
804448615000015	三樓視聽資料區	3.不外借	微縮資料(microform)	MF 448.615 4499	1.一般(Normal)	在架	0

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