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次微米元件電磁干擾容忍性之研究=a study og the emi s... ~ 劉正光

 

• 次微米元件電磁干擾容忍性之研究=a study og the emi susceptibility in submicron devices

• 紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
  作者:	劉正光
  其他團體作者:	台灣科技大學電子工程技術系
  出版地:	台北市
  出版者:	科學技術資料中心;
  面頁冊數:	61頁 : 11x15公分;
  附註:	NSC852215E011007

• 次微米元件電磁干擾容忍性之研究=a study og the emi susceptibility in submicron devices
• 劉正光
  
  次微米元件電磁干擾容忍性之研究=a study og the emi susceptibility in submicron devices / 劉正光 ; 台灣科技大學電子工程技術系 - 台北市 : 科學技術資料中心 - 61頁 ; 11x15公分.
  NSC852215E011007.

• 次微米元件電磁干擾容忍性之研究=a study og the emi susceptibility in submicron devices
• LDR:00435nhm 2200133 450 001 88148
  009 8810791
  100 $a  20100607 0chiy0900 e
  101 $a  chi
  102 $a  tw
  200 1 $a  次微米元件電磁干擾容忍性之研究=a study og the emi susceptibility in submicron devices $f  劉正光 $g  台灣科技大學電子工程技術系
  210 $a  台北市 $c  科學技術資料中心
  215 $a  61頁 $d  11x15公分
  300 $a  NSC852215E011007
  700 $a  劉正光 $3  79328
  712 $a  台灣科技大學電子工程技術系 $3  79163
  801 1 $a  TW $b  大葉大學 $c  19991101
  

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條碼號	典藏地名稱	館藏流通類別	資料類型	索書號	使用類型	借閱狀態	預約狀態	備註欄	附件
804338230000001	三樓視聽資料區	3.不外借	微縮資料	MF 338.23 7210	1.一般(Normal)	在架	0

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