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非晶矽氫能帶隙中狀態密度之量測及分析研究=characterizatio... ~ 大葉工學院電機工程學

 

• 非晶矽氫能帶隙中狀態密度之量測及分析研究=characterization and modeling of the localized gap states in a-si:h

• 紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
  其他作者:	李世鴻
  團體作者:	大葉工學院電機工程學
  出版地:	台北市
  出版者:	科學技術資料中心;
  出版年:	1992
  面頁冊數:	59頁 : 11x15公分;
  附註:	NSC81-0404-E212-505

• 非晶矽氫能帶隙中狀態密度之量測及分析研究=characterization and modeling of the localized gap states in a-si:h
• 大葉工學院電機工程學
  
  非晶矽氫能帶隙中狀態密度之量測及分析研究=characterization and modeling of the localized gap states in a-si:h / 大葉工學院電機工程學 ; 李世鴻 著 - 台北市 : 科學技術資料中心, 1992. - 59頁 ; 11x15公分.
  NSC81-0404-E212-505.
  
  李世鴻

• 非晶矽氫能帶隙中狀態密度之量測及分析研究=characterization and modeling of the localized gap states in a-si:h
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條碼號	典藏地名稱	館藏流通類別	資料類型	索書號	使用類型	借閱狀態	預約狀態	備註欄	附件
804448000000906	三樓視聽資料區	3.不外借	微縮資料	MF 448 XXXX	1.一般(Normal)	在架	0

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